更新时间：2023-12-24 20:13
X衍射仪是一种用于材料科学领域的分析仪器，于2013年3月1日启用。
角度重现性，±0.0001o；测角准确度，0.0025o；探测器最大技术率，＞4×106 cps；99％线性范围，＞106 cps；最小背景，＜0.2 cps；小角粒度测量范围，（0～300）nm。
可进行粉末及薄膜样品的晶体结构分析，物相鉴定（物相定性、定量分析），相变分析，结晶度测定等。此外，还可进行小角散射纳米粒度测定、应力测定、织构测定等。