要明确进行加速试验的产品层次（级别）是设备级还是零部件级，这一点很重要。某些加速方法只适用于零件级的试验，而有的方法只能用于较高级别的总成（设备），只有少数方法同时适用于零件级和总成（设备）级。对零件级非常合适的基本假设和建模方法在对较高级别的设备进行试验时可能完全不成立，反之亦然。表2列出了在两个主要的级别（设备级和零部件级）上进行试验的信息。

过去，大多数加速试验都是使用单一应力和在定应力谱进行的。包括周期固定的周期性应力（如温度在规定的上下限之间循环，温度的上限和下限以及温度的变化率是恒定的）。但是，在加速试验中，应力谱不必是恒定的，也可以使用多种应力的组合。常见的非恒定应力谱和组合应力包括：

步进应力试验； 渐进应力试验； 高加速寿命试验（HALT）（设备级）； 高加速应力筛选（HASS）（设备级）； 高加速温度和湿度应力试验（HAST）（零件级）。 　高加速试验系统性地使用大大超过产品使用中预期水平的环境激励，因此需要详细理解试验结果。高加速试验用于确认相关故障，并用来确保产品对高于所要求的强度有足够的裕度以便能经受正常的使用环境。高加速试验的目的是大大减少暴露缺陷所需要的时间。该方法可用于研制试验，也可用于筛选。

HALT（高加速寿命试验）是一个研制工具，而HASS（高加速应力筛选）是一个筛选工具。它们常常互相联合使用。这是两种相对较新的方法，与传统的加速试验方法不同。HAL与THASS的具体目标是改进产品设计，将制造偏差和环境效应对产品性能和可靠性的影响减至最小。通常定量的寿命或可靠性预计与高加速试验没有联系。

步进应力谱试验。使用步进应力谱，试验样本首先按事先规定的时间以某个给定的应力水平试验一段，然后在高一点的应力水平下再试验一段时间。不断增加应力水平继续上面的过程，直到某个试验样本失效，或者试验进行到最大应力水平时终止。这种方法能更快速地使产品失效以便分析。但是，用这种方法很难正确建立加速模型，因此很难定量地预计产品在正常使用条件下的寿命。

每一步中应该增加的应力量值与许多变量有关。但是，允许在设计中进行这样的试验的一个普遍的法则是：假设产品没有缺陷，如果最终能以适当的裕量超出预期的使用环境中的应力，就能保证总体控制应力增加的速率。

HALT（高加速寿命试验）。HALT一词是Gregg K. Hobbs 于1988年提出的。HALT有时指应力增益寿命试验（STRIFE），是一种研制试验，是步进应力试验的一种强化形式。它一般用来确认设计的薄弱环节和制造过程中存在的问题，以及用来增加设计强度的富裕量，而不用来进行产品寿命或可靠性的定量预计。

HASS（高加速应力筛选）试验。HASS是加速环境应力筛选

HAST（高加速温度和湿度应力试验）。随着近来电子技术的高速发展，几年前刚刚出现的的加速试验可能不再适应当今的技术了，尤其是那些专门针对微电子产品的加速试验。例如，由于塑料集成电路包的发展，现在用传统的、普遍被接受的85℃/85%RH的温度/湿度试验需要花上千小时才能检测出新式集成电路的失效。在大多数情况下，试验样本在整个试验中不发生任何失效。不发生失效的试验是说明不了什么问题的。而产品在使用中必定会偶尔失效。因此，需要进一步改进加速试验。HSAT就是为代替老的温度/湿度试验而开发的方法。

加速试验模型是对产品在正常应力水平下以及一个或多个加速应力水平下的关键因素进行试验而导出的。在使用加速环境时一定要极其注意，以便识别和正确确认在正常使用中将发生的失效和一般不会发生的失效。因为加速环境一般都使用远高于现场使用时所预期的应力水平，加速应力会导致在实际使用中不可能出现的错误的失效机理。例如，将受试产品的温度升高到超过材料性能改变的温度点或者休眠激活门限温度时，就会导致在正常使用中不会发生的失效的发生。在这种情况下，解决这种失效只会增加产品的费用，可靠性却不会有丝毫的提高。理解真正的失效机理来消除失效的根本原因才是极为重要的。