在HL－1M装置上利用激光吹气技术，在等离子体边缘瞬态注入少量Al杂质粒子，通过对真空紫外光谱和软X射线驱区的杂质辐射测量，分别研究了欧姆等离子体和低杂波电流驱动等离子体两种情况下，Al杂质粒子输运与约束特性。结果表明：在欧姆等离子体和低波电流驱动等离子体两种情况下，等离子体中心区，在没有MHD锯齿破裂期间，杂质粒子输运受MHD不稳定性支配，便其时间很短（通常小于300μs），所以在这种情况下，杂质粒子输运的平均效应比新经典值稍大，而约束区杂质粒子输运则比新经典的值大很多，是反常的。在一定条件下低混杂波电流驱动可以改善等离子体粒子约束。