更新时间：2024-05-21 15:06
数字电路的测试生成，就是要寻找若干输入矢量使被测故障激活，并且能将故障的效应传播到原始输出端测量出来 。测试生成的基本目标是确定测试矢量，当将其施加到被测电路时，测试者能区分正常电路和故障电路。
基本概念
(1)故障：数字系统的故障是指一个电路或系统的物理缺陷，它可以使这个电路或系统失效，也可能不失效，也就是说，存在一定故障的电路或系统仍有可能完成其固有的逻辑功能。
(2)原始输入：在电路中，不接受电路内部任何信号的线，称为电路的原始输入。
(3)原始输出：电路中，可以将信号送到电路的外部进行测量的线，称为电路的原始输出。
(4)输入激励：输入激励是在电路的原始输入端所加的输入赋值。对于组合电路的一个原始输入赋值，一般称为一个输入矢量或输入模式。
(5)输出响应：在一组或多组输入激励作用下，电路输出所取的逻辑状态称为电路对输入激励的输出响应，电路可以是单输出，也可以是多输出。一般情况下，无故障电路的输出响应称为正常输出响应，故障电路的输出响应称为故障输出响应。
(6)测试矢量：能检测数字集成电路中某个故障的输入激励矢量，叫做该故障的测试矢量。对于组合电路，一个测试矢量只是原始输入信号的一种赋值组合，也称为测试码或测试模式。
(7)测试生成：测试生成是产生电路的测试矢量或测试序列的方法或算法。
(8)测试集：若干测试码的集合称为测试集。某个故障的全部测试码的集合称为该故障的完全测试集，简称故障的测试集。被测电路的所有可测故障的完全测试集的集合，称为电路的完全测试集，简称电路的测试集。
(9)可测故障：至少可被一个测试矢量或一个测试序列所检测的故障，称为可测故障。
(10)不可测故障：没有任何一个测试矢量或一个测试序列能够检测的故障，称为不可测故障，在国外的文献上，有时也称为冗余故障。
(11)等效故障：若故障f1和故障f2的测试集分别是d1和d2，如果有d1∈d2，则称故障f1隶属故障f2(故障f1的测试集能检测到故障f2)，而故障f2支配故障f1。当两个故障相互支配时，则称这两个故障为等效故障。
(12)故障覆盖率：是指被测电路测试集所能检测到的故障数与被测电路故障总数的比值。
(13)测试生成时间：测试生成算法生成被测电路测试集所花费的时间，一般用CPU时间来表示，单位是秒(s)。
(14)扇出：一个元件的输出连接多个元件的输入被称为扇出，该输出线被称为扇出点，由扇出点至其它元件的连线称为扇出分支。如果从同一扇出点出发的两条或多条路径经过若干元件后到达同一个门的两个或多个输入端，称为扇出重汇聚，该门称为汇聚门。