更新时间：2023-08-09 16:25
深能级瞬态谱能检测半导体中微量杂质、缺陷的深能级及界面态。通过深能级瞬态谱仪对样品的温度扫描，可以给出表征半导体禁带范围内的杂质、缺陷深能级及界面态随温度（即能量）分布的DLTS谱。
在光伏领域的应用
分析少子寿命和转化效率衰减的关键性杂质元素和杂质元素的晶格占位，确定是何种掺杂元素和何种元素占位影响少子寿命。