边缘粗糙度

更新时间:2023-04-07 18:35

边缘粗糙度(Line Edge Roughness, LER)是指光刻胶图形边缘的粗糙程度。

边缘粗糙度(Line Edge Roughness, LER)是指光刻胶图形边缘的粗糙程度。

测量方法

通常使用高分辨率电子显微镜来测量边缘粗糙度。首先是选择一个长度为L的测量窗口。在这个窗口之内的光刻胶边缘被等间距的扫描N次,相邻扫描之间的间隔是 ,因此 。图1中, 代表每一次扫描时确定的光刻胶边界位置。平均的边界位置确定为

每一次扫描所确定的边界与平均边界的偏差为

所测得的光刻胶边界的标准误差,即边缘粗糙度,可以计算得到:

在光刻领域通常使用3倍的边界误差(即)来定量描述边缘粗糙度。

图1 光刻胶边缘示意图

LER形成机理:

对于化学增幅型光刻胶,由曝光光源产生的入射光子转化为光酸,光酸通过化学反应转化为“潜影”。显影液中的潜影由各种具有不同溶解度的化合物组成,图2中潜影的蓝色区域能够在显影液中完全溶解,红色区域则不能溶解,而中间区域则是可溶和不可溶分子的混合。因为可溶解分子的生成过程是随机的, 所以中间区域分子的分布无法控制,正是中间区域可溶分子的不均匀性导致了LER的形成。因此,LER正比于中间区域的宽度,它们之间的关系通过化学梯度(决定光刻胶溶解度的某种化合物的浓度梯度)联系起来:

上式中, 是一个比例常数, 是用初值归一化后保护基团的浓度, 是化学梯度。 由显影和冲洗过程中相关的材料和工艺决定,高性能光刻胶的 取值范围为0.14-0.31。

图2 LER形成机理

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