更新时间：2016-05-25 19:22
1939年3月生，测试技术及仪器研究所所长。
陈东义
男，测试计量技术及仪器博士点学科带头人，四川省学术学科带头人，四川省优秀博士生导师，电子工业部军事预研先进个人，电子工业部有突出贡献专家,享受国家政府特殊津贴专家，中国电子学会会士，英国IEE会员。1985年4月至1986年11月公派赴美国KEYTECH公司进行科技合作,多次率考察团赴美国、日本、俄罗斯、乌克兰、白俄罗斯、香港和欧洲考察。学术兼职有中国电子学会电子仪器专业委员会常委，自动测试与控制分会主任委员，中国计量学会计量测试专业委员会委员，中国计算机学会容错计算专业委员会委员，全国ICCAT专家委员会委员，全国工科电子类教学指导委员会电子测试技术委员会主任委员，多所大学兼职教授等。
多年来，在现代测试理论、计算机辅助测试(CAT)、数据域测试、VLSI测试理论及方法、故障诊断技术与可测性设计、专家系统以及测试系统结构体系(VXI)等进行了卓有成效的研究工作，曾担任“VLSI测试理论与方法”课题“八五”国家攻关组组长。共完成国家及部省级科研项目26项，其中15项获国防科工委、部省级科技进步奖。编写出版专著和教材8部，“数据域测试及仪器(第二版)”1995年获全国电子类优秀教材一等奖，公开发表学术论文100余篇，多篇论文被国际检索机构检索。 已培养博士17名，硕士50余名。目前，在读博士研究生19名，硕士研究生15名。